 |
|
||||||||||
Scanning Electron Microscopes (SEM)
| FEI Quanta 200 FEG | |||
 |
featuresHigh Voltage: 0.2-30 kV |
detector systemsSE, BSE, FSE |
locationHPT C 11 year of acquisition2006 |
| FEI Quanta 600 ESEM | |||
 |
featuresHigh Voltage: 0.2-30 kV |
detector systemsSE |
locationHIF C 17.2 year of acquisition2003 |
| Zeiss Gemini 1530 FEG | |||
 |
featuresHigh Voltage: 0.2-30 kV |
detector systemsSE+ SE In-lens |
locationHPM A 73.2 year of acquisition2001 |
| CamScan CS-44 | |||
 |
featuresHigh Voltage: 1-40 kV |
detector systemsEDX |
locationHPT C 10 year of acquisition1994 |
Wichtiger Hinweis:
Diese Website wird in älteren Versionen von Netscape ohne
graphische Elemente dargestellt. Die Funktionalität der
Website ist aber trotzdem gewährleistet. Wenn Sie diese
Website regelmässig benutzen, empfehlen wir Ihnen, auf
Ihrem Computer einen aktuellen Browser zu installieren. Weitere
Informationen finden Sie auf
folgender
Seite.
Important Note:
The content in this site is accessible to any browser or
Internet device, however, some graphics will display correctly
only in the newer versions of Netscape. To get the most out of
our site we suggest you upgrade to a newer browser.
More
information
